特許

PCT国際出願　PCT/JP2005/15791 安井武史、荒木勉、実吉永典 『高分解・高速テラヘルツ分光計測装置』 出願受理日：2005年8月30日

PCT国際出願　PCT/JP2005/15868 安井武史、荒木勉、安田敬史 『実時間テラヘルツトモグラフィー装置および分光イメージング装置』 出願受理日：2005年8月31日

安井武史、荒木勉、実吉永典 『高分解・高速テラヘルツ分光計測装置』 出願番号：特願2005-55367 出願受理日：2005年3月1日

安井武史、荒木勉、安田敬史 『実時間テラヘルツトモグラフィー装置および分光イメージング装置』 出願番号：特願2005-34471 出願受理日：2005年2月10日

安井武史、荒木勉 『塗装膜測定方法及び装置』 特許公開2004-28618

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